-  ◆性能特點(diǎn): 
 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強(qiáng)。
 精密探針定位裝置,激光光斑對準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡便。
 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。
 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式,保護(hù)探針及樣品。高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,可自由選擇。 
 高倍物鏡自動光學(xué)定位,無需調(diào)焦,實(shí)時(shí)觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域。
 彈簧懸掛式防震方式,簡單實(shí)用,防震效果好。
 金屬屏蔽隔音箱,內(nèi)置高精度溫濕度傳感器,實(shí)時(shí)監(jiān)測工作環(huán)境。
 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%。◆測量范圍及應(yīng)用: 測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。 應(yīng)用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。 ◆ 應(yīng)用案例 Application Case  
- 序號 - 名稱 - 技術(shù)參數(shù) - 01 - 工作模式 - 接觸模式、輕敲模式 - 02 - 選配模式 - 摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力 - 03 - 力譜曲線 - F-Z力曲線、RMS-Z曲線 - 04 - XY掃描范圍 - 50×50um,可選20×20um,100×100um - 05 - Z掃描范圍 - 5um,可選2.5um,10um - 06 - 掃描分辨率 - 橫向0.2nm,縱向0.05nm - 07 - 樣品尺寸 - Φ≤90mm,H≤20mm - 08 - 樣品臺行程 - 25×25mm - 09 - 光學(xué)觀察 - 10X光學(xué)物鏡/1um分辨率 - 10 - 掃描速率 - 0.6Hz~30Hz - 11 - 掃描角度 - 0~360° - 12 - 運(yùn)行環(huán)境 - Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng) - 13 - 通信接口 - USB2.0/3.0 - 14 - 減震設(shè)計(jì) - 彈簧懸掛/金屬屏蔽箱 

 
  
  
  
  
  
  
  
 
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